TO20低對比度細節測試模體
產品名稱：TO20低對比度細節測試模體
產品編號：20250220-10
產品質保：12個月
產品簡介：TO20和TO16低對比度細節測試模體是用于快速定量評估X射線影像系統成像質量的關鍵工具，兩者均采用直徑250mm、厚度10mm的圓板結構，板內嵌有12組不同尺寸的細節陣列，每組包含12個不同直徑的圓形細節，共計144個測試點。細節直徑范圍從0.25mm至11mm，對比度在75kV電壓及1.5mm銅濾過條件下覆蓋0.0014至0.924的寬泛區間，能夠模擬從極微弱到顯著差異的成像條件。TO16型模體專為計算機數字X線攝影系統（CR/DR）設計，通過分析系統對低對比度細節的閾值探測能力（TCDD），直接反映設備的信噪比和低對比度分辨力，其測試結果可繪制閾值檢測指數曲線，用于綜合評價設備性能。而TO20型模體在保留TO16基礎參數的同時，擴展了應用場景至透視和血管造影系統，支持60kV、65kV、70kV、80kV等多檔電壓條件下的影像質量評估，尤其適合動態成像場景下的質量控制。兩種模體均符合WS標準，通過定期檢測可幫助放射衛生院和質控人員結合受檢者劑量數據，實現圖像質量與輻射安全的雙維度優化，例如在DR設備調試中，既能驗證檢測量子效率（DQE）的提升效果，又能評估曝光寬容度對臨床圖像的影響。其核心價值在于將主觀影像評價轉化為客觀量化指標，例如通過144個細節點的可探測性分布，定位系統在特定對比度或尺寸閾值下的性能瓶頸，為設備維護、參數校準及技術升級提供數據支撐。
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是否可以非標訂制：可以按照客戶要求非標定制：TO20低對比度細節測試模體
產品編號：20250220-10
