安檢設(shè)備測(cè)試模體
機(jī)玻璃/亞克力材質(zhì)檢測(cè)模體
| 數(shù)量: | 庫存 0 件 |
安檢設(shè)備測(cè)試模體
機(jī)玻璃/亞克力材質(zhì)檢測(cè)模體就是主要采用（PMMA）板材，廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230223-07。
X射線安檢機(jī)測(cè)試模體本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線安全檢
查設(shè)備第2部分:透射式行包安全檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試箱B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備
包括測(cè)試體A和測(cè)試體B，測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的材料分辨能力。
測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上、下防護(hù)襯板封裝成一長方形的測(cè)試
圖形分辨力：安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體A放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線發(fā)射方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)檢測(cè)皆適用）；目測(cè)X射線圖像。
穿透分辨力：判斷安檢設(shè)備能分辨的鋁階梯下單根實(shí)芯銅線標(biāo)稱直徑。如果可以看到被鋁階梯遮擋的銅線的大部分，則可認(rèn)為安檢設(shè)備能分辨此銅線。
安檢設(shè)備測(cè)試模體
機(jī)玻璃/亞克力材質(zhì)檢測(cè)模體就是主要采用（PMMA）板材，廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230223-07。
X射線安檢機(jī)測(cè)試模體本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線安全檢
查設(shè)備第2部分:透射式行包安全檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試箱B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備
包括測(cè)試體A和測(cè)試體B，測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的材料分辨能力。
測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上、下防護(hù)襯板封裝成一長方形的測(cè)試
圖形分辨力：安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體A放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線發(fā)射方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)檢測(cè)皆適用）；目測(cè)X射線圖像。
穿透分辨力：判斷安檢設(shè)備能分辨的鋁階梯下單根實(shí)芯銅線標(biāo)稱直徑。如果可以看到被鋁階梯遮擋的銅線的大部分，則可認(rèn)為安檢設(shè)備能分辨此銅線。
安檢設(shè)備測(cè)試模體
機(jī)玻璃/亞克力材質(zhì)檢測(cè)模體就是主要采用（PMMA）板材，廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司為實(shí)體廠家，有著十年以上的加工生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品生產(chǎn)銷售編號(hào)：20230223-07。
X射線安檢機(jī)測(cè)試模體本產(chǎn)品符合GB15208.2- 2018《微劑量X射線安全檢
查設(shè)備第2部分:透射式行包安全檢查設(shè)備》要求，產(chǎn)品包括測(cè)試箱體A和測(cè)試箱體B兩部分。測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力;測(cè)試箱B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備
包括測(cè)試體A和測(cè)試體B，測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體B為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的材料分辨能力。
測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上、下防護(hù)襯板封裝成一長方形的測(cè)試
圖形分辨力：安檢設(shè)備正常運(yùn)行，測(cè)試體A放置在檢測(cè)區(qū)域傳送帶上的*佳位置，測(cè)試體平面垂直于射線發(fā)射方向，并盡量靠近放射源或者球管，同時(shí)允許采用圖像處理工具以得到*佳測(cè)試體的圖像（這點(diǎn)對(duì)以下各個(gè)性能指標(biāo)檢測(cè)皆適用）；目測(cè)X射線圖像。
穿透分辨力：判斷安檢設(shè)備能分辨的鋁階梯下單根實(shí)芯銅線標(biāo)稱直徑。如果可以看到被鋁階梯遮擋的銅線的大部分，則可認(rèn)為安檢設(shè)備能分辨此銅線。
