核磁共振成像性能測試模體
核磁共振模體用于評(píng)估*用
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核磁共振成像性能測試模體
核磁共振模體用于評(píng)估*用核磁共振成像質(zhì)量分析,測磁場均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對(duì)比度)、幾何線性等。核磁共振模體生產(chǎn)銷售編號(hào)：20221204.02，層厚測試組件包括由六塊平板構(gòu)成的正方體結(jié)構(gòu)，分別為前后側(cè)板、左右側(cè)板、頂板和底板，六塊平板外側(cè)面開設(shè)有若干道斜槽，斜槽內(nèi)固定安裝有斜板，為斜板式的測試組件，斜板設(shè)計(jì)為多個(gè)厚度為1.8 mm的交叉斜板，更多定制模體等其它有機(jī)玻璃材質(zhì)實(shí)驗(yàn)儀器請(qǐng)咨詢：固安縣雙玉儀器有限公司。
1、放置在探測器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
5、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測模體供應(yīng)商，X射線成像可見。
6、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測到的較小細(xì)節(jié)。
核磁共振成像性能測試模體
核磁共振模體用于評(píng)估*用核磁共振成像質(zhì)量分析,測磁場均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對(duì)比度)、幾何線性等。核磁共振模體生產(chǎn)銷售編號(hào)：20221204.02，層厚測試組件包括由六塊平板構(gòu)成的正方體結(jié)構(gòu)，分別為前后側(cè)板、左右側(cè)板、頂板和底板，六塊平板外側(cè)面開設(shè)有若干道斜槽，斜槽內(nèi)固定安裝有斜板，為斜板式的測試組件，斜板設(shè)計(jì)為多個(gè)厚度為1.8 mm的交叉斜板，更多定制模體等其它有機(jī)玻璃材質(zhì)實(shí)驗(yàn)儀器請(qǐng)咨詢：固安縣雙玉儀器有限公司。
1、放置在探測器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
5、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測模體供應(yīng)商，X射線成像可見。
6、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測到的較小細(xì)節(jié)。
核磁共振成像性能測試模體
核磁共振模體用于評(píng)估*用核磁共振成像質(zhì)量分析,測磁場均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對(duì)比度)、幾何線性等。核磁共振模體生產(chǎn)銷售編號(hào)：20221204.02，層厚測試組件包括由六塊平板構(gòu)成的正方體結(jié)構(gòu)，分別為前后側(cè)板、左右側(cè)板、頂板和底板，六塊平板外側(cè)面開設(shè)有若干道斜槽，斜槽內(nèi)固定安裝有斜板，為斜板式的測試組件，斜板設(shè)計(jì)為多個(gè)厚度為1.8 mm的交叉斜板，更多定制模體等其它有機(jī)玻璃材質(zhì)實(shí)驗(yàn)儀器請(qǐng)咨詢：固安縣雙玉儀器有限公司。
1、放置在探測器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
5、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測模體供應(yīng)商，X射線成像可見。
6、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測到的較小細(xì)節(jié)。
