X光成像對比度測試卡
產品編號：20211202-10
銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
X線影像的形成，應具備以下三個基本條件：首先，X線應具有一定的穿透力；第二，被穿透的組織結構，必須存在著密度和厚度的差異；第三，這個有差別的剩余X線，仍是不可見的，還必須經過顯像這一過程。
對于增感屏的測試，線組只按一個方向排列的測試是足夠的:由于測試是在盒式磁帶上直接進行的，所以不期望在各個方向上的系統誤差，幾何的方向相關誤差不產生影響。
當使用散射輻射網格時，必須考慮到為了避免云紋效應，如果可能的話，線組與次級輻射網格條的角度應小于 45。
數字成像器件共同特性:
組成 的各個像素尺寸決定了成像系統的空間分辨率,以及射線劑量;數 都會有壞像素(包括壞點或壞行)對此必須其進行校正； 的不一致性的校正是獲得高像質困像的一個重要的技術環節；受環境的限制。
線與空間大小：3，4，5，6，7，8，9，10μm(T形布局)
2個圖案：15，20，25，30，35，40，45，50μm(僅為形狀)
L/S寬度：士15%(3, 4μm)
線和間距/線寬：3至50 um，16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局，上圖為大小為5μm L&S的圖像。Au狹縫數為3行2空間。
更多產品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會給您更加滿意的解答，期待您的到來。
產品編號：20211202-10
銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
X光成像對比度測試卡
